近日，电子科技大学自动化工程学院高斌教授领衔的传感器国家工程研究中心成都分中心团队，在中科院一区TOP期刊IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS上发表了题为《Physical and Digital Dual-Driven AI Framework for Enhanced Electromagnetic Perception of Nondestructive Testing Tomography》的研究论文。该研究由陈锐同学担任第一作者，高斌教授作为通讯作者。论文提出了一种结合物理与数字人工智能的电磁无损检测新框架，通过集成物理电磁神经网络和物理感知强化学习引擎，实时自适应优化电磁场传感参数，显著提升了缺陷检测的灵敏度和成像分辨率。实验结果显示，该框架最大灵敏度提高了105.8%，最小缺陷量化达到0.2毫米，超越了现有电磁无损检测技术的性能。此外，该框架在可控核聚变、功能性核磁共振等电磁感控应用领域也展现出潜在的应用价值。