芯粒异构集成为半导体行业带来了重大升级,有效解决了芯片设计制造中的多个瓶颈。然而,高密度集成在降低算力芯片成本的同时,也带来了功耗增加、散热困难等技术挑战,使得热管理成为提升芯片性能的关键。针对芯粒异构集成的复杂性,业界急需新的热仿真方法以满足Chiplet热管理技术的要求。中国科学院微电子所EDA中心的研究团队在此方面取得了新进展,他们构建了芯粒集成三维网格型瞬态热流仿真模型,实现了Chiplet集成芯片瞬态热流的高效精确仿真,为芯粒异构集成温度热点检测和温感布局优化奠定了技术基础。